常规的涂层测厚仪选型方法

　　在相关国家和国际标准中，保护材料表面和装饰形成的覆盖层，如涂层、涂层、涂层、贴层、化学成膜等。

　　复合层厚度测量已成为加工业和表面工程质量测试的重要组成部分，是产品达到优良质量标准的必要手段。为了使产品国际化，中国的出口商品和外国项目对复合层的厚度有明确的要求。

　　复合层厚度的测量方法主要包括：楔形切割法、光截面法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法、涡流测量法等。前五种方法是检测，测量手段繁琐，速度慢，更适合抽样检测。

　　X射线和β射线法是无接触和无损的测量方法，但设备复杂且昂贵，测量范围较小。由于有放射源，用户必须遵守射线保护规范。X射线法可以测量极薄涂层、双涂层和合金涂层。β射线法适用于基材原子序列号大于3的涂层测量。电容法仅用于测量薄导体绝缘层的厚度。

　　随着技术的不断进步，特别是近年来微机技术的引入，磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用的方向迈进了一步。测量分辨率达到0.1微米，精度可达1%，大大提高。它是工业和科学研究中应用最广泛的测厚仪器，适用范围广，测量范围广，操作简单，价格低廉。

　　采用无损法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量检测工作经济地进行。